AD转换与AD转换的作用是什么

逐次逼近式AD转换器与计数式A/D转换类似,只是数字量由“逐次逼近寄存器SAR”产生.SAR使用“对分搜索法”产生数字量,以8位数字量为例,SAR首先产生8位数字量的一半,即10000000B,试探模拟量Vi的大小,若Vo>Vi,清除最高位,若VoVi,“控制电路”清除最高位,若Vo

1 采样、保持电路的作用：快速采样然后保持该采样值在AD转换的时间内不变,快速采样可以得到理想的（能反映原模拟信号特征）的采样信号；保持该采样值不变,可以保证AD转换的精度,消除转换误差.
2 省略该电路的前提条件是：该模拟信号变化的速度要很慢,而AD转换器速度要高速的 才可以 ,即满足香浓定理,AD转化器的工作频率要远远大于模拟信号的最高频率.

若是同步采集卡是每个通道都有一个AD转换芯片,可同时进行AD转换；若不是同步,则只有一个芯片,是一个一个轮流转换的.USB2832是后者.有问题或需要可联系我.

不是很明白,有可能是芯片内部的硬件公式,硬件上已经确定了数据就是这个系数

250Ks/s是采样速率,k -kilo千的意思 S/s是Samples/s,即每秒采集的样点数,也可以看作是每秒采集的次数,250ks/s就表示每秒中采集250k的数据点.pci1761L的AD转换频率就要看你是哪家公司的采集卡了.我做数据采集卡的有问题希望可以帮你qq274036952

1 电压值是16进制
2 首先跟你adc的位数有关.假如你adc是8位的,基准电压为3.3v,假如你输入电压为1v
那么adc采样得到的数为：1/3.3x(2e8)
你可以反推过去51是为什么来的.这个51和单片机的位数,基准电压有关.
3 加0x30是因为要转换为ACSII码.这个你可以差ACSII码表.

热敏电阻是如你所说通过AD转换显示温度,但是温度传感器并不是完全如此,采用热敏电阻测温原理的温度传感器是这样,而还有一种数字温度传感器,它采用两个计数器（减法）,高温度系数晶振和低温度系数晶振,通过对晶振产生的脉冲信号计数并存入温度寄存器来测量温度.你可以看一下DS18B20这种数字型的温度传感器,希望能够对你有所帮助

unsigned int ADC_Convert(void) { unsigned int result,temp1,temp2; ADCDH=0; ADCDL=0; ADCON0= 0x80; delayms(1); ADCFG0 = 0x12; /*全速模式*/ ADCON0|= 0x08; while ((ADCON0 & 0x10) == 0 ); /*转换完成,ADC硬件会自动清除ADCS并且ADCI置位.ADCS或ADCI为”1”时将不会开始新的A/D转换.*/ ADCON0 &= 0xE7; temp1=ADCDH; temp2=ADCDL; result = (temp1

这由AD的位数决定；如果是8位AD,则分辨率为1/255 V;
如果AD位数为n,则分辨率为1/(2^n - 1) V

首先题目中有一个值说的有问题,80mV时,应该是450左右,而不是4500左右.
对于量程切换主要是精度问题.使用多个量程可以提高小信号下的测量精度.
针对不同的输入信号,使用不同的量程,每个信号的最大输入值对应量程最大值,这样,针对每个信号的测量最小分度就变成了输入信号最大值/AD位数,而不是对应AD量程/AD位数.
以12位AD为例比较简单些,24位的道理相同.
测量一个0.52mV的信号,使用4.096V的量程.
在量程为0~1.024V情况下,测得数值为：0.50 分度为0.25mV
在量程为0~2.048V情况下,测得数值为：0.5 分度为0.5mV
在量程为0~4.096V情况下,测得数值为：0 分度为1mV
测量一个0.75mV的信号,使用4.096V的量程.
在量程为0~1.024V情况下,测得数值为：0.75 分度为0.25mV
在量程为0~2.048V情况下,测得数值为：0.5 分度为0.5mV
在量程为0~4.096V情况下,测得数值为：1 分度为1mV
这样就可以看出,变换量程,可以提高小信号下的测试精度.

输入电压0-5v对应数字信号00H-FFH,也就是0-255.可以把输入看成x,输出看成y,任意取对应两点如(0,0)(5,255),则y=255x/5=51x;当输入为3时,y=153,对应的数字信号为10011001,即99H.

1、LPC1114没有浮点单元,若要进行浮点运算,C语言里可以直接写,编译时会调用库函数来处理,如：a=b/3.0；
2、可将浮点数扩大几个数量级并取整,转化为整数运算,这样速度会快一些,但多少会有些误差.