用于USB的镀金端子用XRF测试，结果CD总是200多，为什么会这样？而供应商给的第三方测试报告都是OK的。

XRF指的是X射线荧光光谱仪（X-Ray Fluorescence Spectrometer），是一种利用样品中元素发射出的X射线来分析元素组成的仪器。XRF技术是非破坏性分析技术，在工业、环保、医疗、考古等领域都有广泛应用。它能够快速、准确地检测和分析各种材料中的元素含量，如金属、陶瓷、聚合物、土壤、矿石等。XRF仪器的工作原理是通过将样品辐射X射线，使其原子激发并产生荧光，再通过荧光信号的能量和强度来分析样品中元素的种类和含量。它具有操作简便、无需样品前处理、分析速度快、精度高等优点，能够满足复杂物质分析的需求。总之，XRF作为一种高效、准确的元素分析技术，应用越来越广泛。它在科研、生产和检测等领域都起着重要的作用，对于优化生产、保护环境、研究物质性质等方面都有积极的推动作用。

XRF测试本身是一种方法，即X射线荧光光谱法（XRF）原理是使用X射线照射样品产生的特征荧光，进行定性和定量分析。

XRF指的是X射线荧光光谱仪,可以快速同时对多元素进行测定的仪器。当一束高能粒子与原子相互作用时，如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能，将该轨道电子逐出，对应的形成一个空穴，使原子处于激发状态。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出，便产生了X荧光。X荧光的能量与入射的能量无关，它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定，故称之为该元素的特征X射线，也称荧光X射线或X荧光。

XRF镀层测厚仪是一种通过X射线荧光（XRF）技术来测量金属表面镀层厚度的仪器。其原理如下：X射线发射：XRF镀层测厚仪内置一个X射线源，可以发射出高能的X射线射向被测金属表面。X射线源通常采用真空电弧或电子束激发。X射线荧光：当X射线照射到金属表面时，会与表面的原子发生相互作用，激发出原子内的电子。被激发的电子在回到稳定轨道时会释放出能量，以X射线荧光的形式释放出来。X射线检测：XRF镀层测厚仪内置一个X射线检测器，可以检测金属表面释放出的X射线荧光。检测器将X射线荧光转化为电信号，供后续处理和分析使用。谱线分析：XRF镀层测厚仪通过对X射线荧光谱线进行分析，可以确定金属表面各元素的种类和含量。根据不同元素在特定波长下的荧光强度，可以计算出金属表面各镀层的厚度。厚度计算：XRF镀层测厚仪通过软件算法，将金属表面各元素的含量与相应的镀层厚度进行关联，从而计算出金属表面各镀层的厚度。XRF镀层测厚仪具有非接触、无损、快速、高精度等特点，适用于测量金属表面各种不同材料和结构的镀层厚度，如铜、镍、铬、金等。但需要注意的是，XRF镀层测厚仪的测量精度受多种因素影响，如金属表面的粗糙度、基体材料的影响、仪器误差等。因此，在实际应用中需要根据具体情况进行校准和修正。

XRF是X荧光光谱。分为波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)，检测信号都是二次X射线，波长色散型是通过晶体将不同波长的射线分开，达到分辨特征谱线的效果，而能谱是通过检测器对能级的不同进行分辨，就现在技术而言，除去采用偏振光的能谱，波谱的元素检测范围以及检测限都要比能谱好一些，但是波谱对样品要求更加严格(土壤、矿物最好采用熔融制片)，但是对测量结果要求不高的话，能谱对样品处理要求可以降低，检测速度快。ICP是将样品通过矩形管送至等离子火焰燃烧发出特征光谱，此光谱属于离子发射光谱(120NM至800NM范围)，在可见光附近(包括可见光)，信号通过光栅分光后转到检测器，但对样品处理有要求，最好成溶液，也有固体送样，但是听说送样效果不是很好。XRF对常量检测具有很大优势，也能检测比较低含量的物质。ICP对低含量物质有很好检测效果，很多测量纯物质中的低含量都会采用。

XRF镀层测厚仪是一种基于X射线荧光原理的涂层厚度测量仪器。其基本原理如下：X射线发射：XRF镀层测厚仪内置的X射线源发射X射线，X射线穿过待测涂层并作用于样品下方的探测器。X射线荧光反应：样品表面的涂层对X射线产生荧光反应，释放出特征X射线，特征X射线能量与涂层材料相关。特征X射线检测：探测器接收到特征X射线，并将其转换为电信号，通过电路传输至仪器内部。涂层厚度计算：仪器根据特征X射线的能量和强度，通过预定的算法和标定曲线，计算出涂层的厚度。XRF镀层测厚仪利用X射线荧光原理，能够实现高精度的涂层厚度测量，且适用于多种材料类型和涂层体系。其优势包括非破坏性、快速测量、高精度、无需对样品进行特殊处理等。但需要注意的是，XRF镀层测厚仪的测量结果可能受样品表面平整度、涂层材料性质等因素影响，因此在实际应用中需要进行适当的样品准备和测量条件设置。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产镀层测厚仪，ROHS环保测试仪，ROHS有害元素检测仪，ROHS分析仪，ROHS检测仪，ROHS仪器，EDX1800B，ROHS检测仪器，无卤测试仪，ROHS2.0检测仪，ROHS六大有害物质检测仪等仪器。Thick800A镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

XRF仪器是有辐射，XRF的辐射量很低，功率很小。X射线在穿透人体时，会对人体产生轻度危害，引起人体生物大分子及水分子的电离和激发反应，产生知有害效应，无任何防护的照射就会对人体造成射线损伤。射线对人体造成的伤害，绝大部分会长期潜伏在体内，破坏免疫系统。分析仪的X射线不会直接穿透人体的，但也需要防护装置，即使是在有防护装置不直接接触的情况下，日积月累，也是一件很可怕的事情。扩展资料：相关场景的X光辐射：1、行李X光安检仪与医用X光成像仪原理相同，但因为行李安检时对成像质量的要求没有医学上那样高，所以行李安检仪中X光的强度要小得多，辐射剂量约为医用X光成像仪的1%。2、机场安检X光全身扫描仪所用到的是后向散射X光探测技术，使用的是能量较低的X光，仅能进入人体皮肤组织几毫米。X光与被测物内的电子发生碰撞，能量会发生损失，且能量损失的大小与被测物的密度有关。3、X光全身扫描仪探测反射回的X光能量及强度变化，从而区分人体皮肤组织和刀具、武器等金属物品。因为全身扫描仪所用的X光的能量和强度都较低，所以接受一次全身安检所受到的辐射剂量大约相当于拍一次X光片的五千分之一，影响是比较小的。

主要是指测试的精确度，一般来说XRF的测试精度比较低，一般测试结果做得比较理想的情况都有10%以上的误差，同时看在应用在哪些方面的测试，测什么基材的什么元素，本底的影响等。一般是定性分析，现在XRF应用在ROHS比较多，它主要来进行定性分析，看看是否达到ROHS标准要求。当然如果要求不高的百分比的含量测量是可以达到精度要求的，是可以定性的，同时可以多用标样来提高它的测试精确度。基本介绍现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成：X射线发生器（X射线管、高压电源及稳定稳流装置）、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器）、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器）。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。以上内容参考：百度百科-X射线荧光光谱分析

百测网是一家提供材料分析和测试服务的公司，其使用的 XRF（X射线荧光）仪器可以用于金属、塑料、玻璃等材料的元素组成分析。在正常情况下，这些仪器可以提供准确的材料成分数据。然而，在使用 XRF 仪器时，需要注意以下几个因素可能会对测试结果产生影响：样品制备：样品必须经过适当的制备和处理才能被放入 XRF 仪器中进行测试。不当的样品制备可能会导致测试结果的偏差或不准确。测试环境：任何干扰或影响测试仪器的环境都可能对测试结果产生影响，如温度、湿度、辐射等。仪器校准：XRF 仪器应定期进行校准，以确保测试结果的准确性。如果 XRF 仪器没有正确地校准，测试结果可能会失去准确性。材料特性：不同类型和形式的材料可能具有不同的结构和化学成分，这可能会影响测试结果。总之，如果在适当的条件下使用和维护 XRF 仪器，测试结果应该是准确的。作为客户，您可以联系百测网以获取更多的测试详细信息和报告。

原子（atom）指化学反应不可再分的基本微粒，原子在化学反应中不可分割。但在物理状态中可以分割。原子由原子核和绕核运动的电子组成。原子构成一般物质的最小单位，称为元素。已知的元素有119种。[1]因此具有核式结构。

根据我理解的角度来说，XRF元素分析仪就是对样品中多种元素进行分析的仪器，其用途是用于需要辨别材料的化学成分或样件合金牌号。以奥林巴斯的XRF元素分析仪来说，在设计上非常的小巧，便于携带，检测结果也很准确。它还配备一个含25种元素的标准软件包，可以测量各种合金和金属。奥林巴斯XRF元素分析仪可以对环境评估进行分析⌄、废料回收分析、制造业的产品质量分析、消费品的安全筛查、珠宝分析等等。

首先，我们以奥林巴斯Vanta为例来探讨一下奥林巴斯手持XRF合金分析仪，这款设备是一种无损的、快速的分析工具，可用于检测和评估各种金属材料。它具有广泛的应用领域，包括考古、地质、珠宝和行业应用等。此外，奥林巴斯手持XRF合金分析仪具有便携性，可以随时随地进行合金分析。它还利用了X射线荧光分析法，对金属样品进行快速分析。XRF技术是一种无损分析方法，可以通过分析样品发出的X射线荧光来评估元素的种类和含量。相比传统的金相分析方法，XRF分析法具有快速、简便和便携的优点。

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。c) 根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

定性分析就是看看测量的样品有什么元素，一般是全元素的分析；定量分析，分为半定量和定量，半定量一般公司的XRF仪器都有而且是XRF方便快捷的特征，但是存在误差较大，一般5—10%，这个是随着含量和原子序数的增加，准确度就越高，Na以前的元素参考性很低，定量分析，一般需要10-20个标样来校准制作标准曲线，这个准确度就会很高了，具体操作每台仪器不太一样，请查看仪器说明书，百度文库上查到过布鲁克公司的使用说明。

XRF仪器是有辐射，XRF的辐射量很低。因为它的功率很小，不像医院做CT的仪器那么大功率，其次在使用过程中只有测试端口才会有辐射，仪器的前端金属部分是防X光穿透的材料，除非你直接对着身体测试不然的话不会伤害到身体。我曾用X－Y辐射计量仪测过，仪器在测试过程中它周围的辐射量很少，比CRT显示器的还低很多。如果你常年操作此仪器，应该要求公司每年给你做体检，是那种职业病的检查，而不是一般的身体检查。现在大工厂都用XRF，检测员一天操作仪器最少8个小时，XRF也是被IEC认可的检测仪器.

五金和塑胶，还有液体，固体

用数据线连接电脑传输。第一次连接需要装一个驱动，配置U盘或者一起内置储存理由。打开IE浏览器，输入指向IP，默认为10.0.0.1，连接，使用报告生成器生成报告，模板、格式都可设置。便携式XRF光谱仪Edxpert-2由Hewlett-PackardiPAQPDA控制，可提供分析仪系统的高灵活性和可用性。PDA具有高分辨率的4英寸触摸屏显示器，可随着PDA技术的进步而升级。价格合理的可选实验室支架允许将便携式XRF光谱仪Edxpert-2用作台式实验室XRF分析仪，并与本台式EDXpert？II软件结合使用时，可有效转化为台式光谱仪。

这个问题本身比较模糊，XRF包括，EDXRF 和 WDXRF，不管哪种，检测限和定量精确度都比EDS高很多，至于准不准确？这个主要看你的分析方法， 标准曲线做的如何！

1、按住板机按键，直至设备开机。2、开机后，按住SET键，直至屏幕显示F1。3、按向上、向下按键进行数值调整；向下键为减0.1℃，向上键为加0.1℃。4、温度校准后，按住SET键直至关机，即可完成设置。

性质不同

一般测定原子序数大于Na的元素

XRF是X射线荧光，ICP是指电感耦合等离子，一般用于代称X荧光光谱仪和电感耦合等离子耦合光谱仪。

可以让岛津的技术人员给你升级个全元素分析软件。一般Na~U

我觉得奥林巴斯这个品牌挺好的。首先他本身就是国外进口的百年品牌，质量上肯定是没话说。其次它的XRF合金分析仪有两种型号，一个是Vanta分析仪，还有一个是Vanta Element分析仪。我工作中会用到Vanta分析仪⌄所以我详细的介绍一下。Vanta分析仪搭载新型四核处理器，以及专有的Axon技术，采用超低噪声电子元件，每秒钟可达到更高的X射线技术，响应速度快，并且能获得准确、可重复的结果。也就是说，无论我们使用哪台Vanta分析仪对合金材料进行检测，从第一次检测到最后一次检测，结果几乎都是一致的。这样就大大的提高了我们的工作效率，节约了很多时间成本。

如果是按照三氧化二铁做的，按照分子量比例换算就可以得到全铁含量

使用化学测试方法进行测试

我了解一些，我们团队用的是奥林巴斯XRF手持式光谱分析仪Vanta，它性能非常好，可以快速获得精确而且可重复的检测结果,不管检测多少次,Vanta分析仪都能提供同样准确的结果。并且XRF手持式光谱分析仪Vanta采用了特有的Axon技术,其使用超低噪声电子设备,可以在每秒钟实现更高的X射线计数率,从而得到更加精准的测量结果。再加上新型四核处理器的使用,Vanta分析仪拥有突破极限的响应能力,可以在超短时间内获得测量结果，是一款非常不错的设备。

有危害应该是确定的但只要防护得当，您不是每天都接触的话，对身体不会有明显的影响。x射线和其他辐射线，一般对人的伤害分为两种，一是通过能量传递，对人体细胞的DNA进行破坏，称为物理效应，还有一种是，由射线对人体组织内水发生电离，产生自由基，这些自由基再和生物大分子发生作用，导致不可逆损伤，称为生物效应。x射线以生物效应为主。

X射线荧光光谱

你问的是XRF检测仪在操作人员使用的时候是否对人身有辐射伤害吧，据我目前所知，只要你们公司买的牌子不是特别差的话，一般都没有问题的，一是这种仪器本身的辐射其实并不算大，大家认为的把它渲染夸大了而已，二是厂家一般都会进行设置，只有在在实际使用的时候才有辐射能力产生，而在正式测量的时候，防护盖一般都是关闭的，故不会造成什么影响。 呵呵，另外如果没有购买的话，可以考虑一下深圳力先达公司的XRF仪器，他们的母公司本身就是做核辐射防护，在辐射方面采用了三重防护，使辐射伤害的情况降低到0.通过仪器测试，他们的仪器在盖上盖子后，辐射量比地板的辐射量都低。 另外，说这种仪器一点辐射也没有的那是扯淡，手机啥的不都有辐射吗。

我觉得我应该可以回答这个问题

不懂！同问！帮顶！！！！

这个问题你可以找我，我可以提供给你一套的方案。包括sop,你可直接用。打我电话021-60900453

有时，ppm代表纯数量单位，即百万分之一（Part Per Million).XRF只能测元素总量，不能确认是不是PBDE，PBBS.XRF（能量色散型X荧光光谱仪）XRF（波长色散型X荧光光谱仪）X射线荧光分析法原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。X-射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。X射线是伦琴于1895年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01～10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞击到金属Mo，Cu，Fe，Cr，Rh等材料制成的阳极靶上，电子运动突然停止，电子动能部分转变成X射线辐射出来，它包含有高强度的单色X射线——特征X射线外，还有连续的X射线。高能粒子（电子或连续X射线等）与靶材料碰撞时，将靶原子内层电子（如K，L，M等层）逐出成为光电子，原子便出现一个空穴，此时原子处于激发态，随即较外层电子立即跃迁到能量较低的内层空轨道上，填补空穴位。若此时以X射线的形式辐射多余能量，便是特征X射线。当K层电子被逐出后，所有外层电子都可能跳回到K层空穴便形成K系特征X射线。由L，M，N…层跃迁到K层的X光分别为Kα，Kβ，Kγ…辐射。同样地，逐出L或M层电子后将有相应的L系或M系特征X射线：Lα，Lβ…；Mα，Mβ…。Kα，Kβ辐射的波长λ是特征的，它取决于K，L，M电子能层的能量：可以看出，不同元素由于原子结构不同，各电子层的能量不同，所以它们的特征X射线波长也就各不相同。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样，激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线，这便是X射线荧光，参见图14－10。荧光X射线的最大特点是只发射特征X射线而不产生连续X射线。试样激发态释放能量时还可以被原子内部吸收继而逐出较外层的另一个次级光电子，此种现象称为俄歇效应。被逐出的电子称为俄歇电子。俄歇电子的能量也是特征的，但不同于次级X射线。特征X射线的波长λ随元素原子序数Z的增加而变短，两者的关系射线系的K，S值不同。只要测得荧光X射线的波长及其强度，便可确定试样中所存在的元素及其含量，这是荧光X射线法定性与定量分析的依据。人们利用X射线荧光光谱来测定试样所产生的特征荧光X射线的波长，其工作原理为：当荧光X射线以入射角θ射到已知晶面间距离d的晶体（如LiF）的晶面上时，发生衍射现象。根据晶体衍射的布拉格公式λ∝dsinθ可知，产生衍射的入射光的波长λ与入射角θ有特定的对应关系。逐渐旋转晶面用以调整荧光X射线的入射角从0°至90°，在2θ角度的方向上，可依次检测到不同λ的荧光X射线相应的强度，即得到试样中的系列荧光X射线强度与2θ关系的X射线荧光光谱图，说明试样含有Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，W等7种金属元素。至于它们的含量还应与含有相应元素的标准物的荧光X射线强度相比较而获得。X射线荧光分析法的特点与适应范围是：（1）适应范围广除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。（2）操作快速方便在短时间内可同时完成多种元素的分析。（3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。（4）灵敏度偏低一般只能分析含量大于0.01％的元素。

XRF测试的结果是物理检测SGS测试的结果是化学检测所以两种的报告是不是一样的。而且你还要调XRF测试仪的标准值

我觉得XRF手持式光谱分析仪检测的东西应该都差不多。我只用过奥林巴斯这个牌子的XRF手持式光谱分析仪，就用奥林巴斯Vanta举例来说。Vanta能够运用X射线荧光技术测量检测材料是否含有金属元素，金属元素各自的含量占比如何，以及提供相应的数据分析。奥林巴斯Vanta一般是被我用来进行废料回收检测，非常好用。

不能，这个是扫描金属的

X射线荧光光谱分析（XRayFluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光，而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。 X射线荧光光谱分析（X Ray Fluorescence），通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级X射线被称为X射线荧光。在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。b) 每个元素的特征X射线的强度除与激发源的能量和强度有关外，还与这种元素在样品中的含量有关。c) 根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。

1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。x0dx0a2、XRF镀层测厚仪：x0dx0a俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。x0dx0a功能：精密测量金属电镀层的厚度。x0dx0a应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。

定性分析就是看看测量的样品有什么元素，一般是全元素的分析；定量分析，分为半定量和定量，半定量一般公司的XRF仪器都有而且是XRF方便快捷的特征，但是存在误差较大，一般5—10%，这个是随着含量和原子序数的增加，准确度就越高，Na以前的元素参考性很低，定量分析，一般需要10-20个标样来校准制作标准曲线，这个准确度就会很高了，具体操作每台仪器不太一样，请查看仪器说明书，百度文库上查到过布鲁克公司的使用说明。

看仪器的设计 。。还要正确的操作。。我公司的XRF检测仪器是可以做到零辐射的。我公司仪器采用经典的迷宫式辐射防护结构

XRF是X射线荧光光谱，可以检测不同位置的元素分布（11号以后的），扫面断面的元素分布就可以知道你镀层的厚度。。。。

一定的浓度范围，覆盖待分析未知样品，类似的基体以匹配未知样品，且要有足够的数量以建立工作曲线

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。优点a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。e) 分析精密度高。f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。缺点a）难于作绝对分析，故定量分析需要标样。b）对轻元素的灵敏度要低一些。c）容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

不可以，XRF只能测定氧以后的元素。钻石成分是碳，碳位于氧以前，测不了。

不一样啊 检测的东西都不一样啊

你说的是能谱吧。能谱XRF是靠谱线能级辨别元素种类，一旦谱线漂移，仪器将不能正确识别元素，正常的计数率不能对应到相应元素上，就不能给出各元素正确含量，所以，XRF做漂移校正是必须的。