tem=[]在python中是什么意思？

瞬变电磁法（TEM）仪器为原地矿部廊坊物化探研究所生产的WDC-2B型小功率瞬变电磁仪。野外数据采集使用WDC-2B型小功率瞬变电磁仪。在鲁春矿区布置了9条东西向的勘探线剖面，由北向南为P9、P5、P3、P0、P6、P8、P10、P12勘探线以及F线。整个瞬变电磁法的工作由野外工作和室内工作两部分构成，野外工作完成数据的采集、现场数据初步处理和解释等项任务；室内工作完成数据的综合处理、成图和人机交互解释等项任务。岩矿石地质物性的测定是矿区物探工作的地球物理前提，是为方法技术条件以及物探异常的定性、定量解释提供相应的物性依据和参数。在鲁春矿区采集、测定岩石电参数包括块状矿石、流纹岩、绿泥板岩、绢云板岩、玄武岩、矿化灰岩等六大类岩石（表4-2）。矿石的电阻率低，变化范围为132～180Ω·m，平均为154Ω·m；围岩的电阻率高，各类岩石电阻率的变化范围为300～4920Ω·m，围岩电阻率的平均变化范围为470～2350Ω·m。从磁参数统计表可看出，矿（化）体与围岩的电阻率的差异非常明显，因此，认为异常为矿致异常，具有实施瞬变电磁法（TEM）探测的物性条件。表4-2　鲁春矿床岩石、矿石的电性参数鲁春矿区矿体中含有大量的磁铁矿和Zn-Cu-Pb硫化物矿物，具有实施瞬变电磁法（TEM）探测的物性条件，通过TEM电法工作，探测鲁春矿（化）体深部空间产状。通过对鲁春矿区9条物探剖面的重叠回线和大定源回线法探测，控制深度350～500m，对其已知矿体露头区以及植物和坡积物覆盖区，均显示出较好的效果（图4-13，图4-14，图4-15，图4-16）。北矿段（P11-P3勘探线）有一定数量的坑道、探槽和采坑控制矿体，布置瞬变电磁法（TEM）剖面3条，分别位于P9、P5、P3勘探线。重叠回线位于P9勘探线，大定源回线位于P5、P3勘探。TEM结果显示在地下深度约250m范围内都存在ρs值为25～0Ω·m的低阻体，其低阻体出现的部位与高精度磁测异常的范围基本一致，推测为矿化体。在P9勘探线地下深度约150～500m范围出现了宽约400m的低阻体，ρs值为20～0Ω·m，推测为层状矿体下伏的筒状矿（化）体。图4-13　鲁春矿区P9勘探线地质剖面及TEM视电阻率断面综合图中矿段（P3-P4勘探线）的绝大部分为植被和坡积物覆盖区，只在P0-P2勘探线之间有少量工程揭露矿体。布置瞬变电磁法（TEM）剖面1条，位于P0勘探线上，TEM（重叠回线）结果显示在地下深度约200m范围内存在ρs值为25～0Ω·m的低阻体，其低阻体出现的部位与高精度磁测异常的范围基本一致，推测为矿化体。由高精度磁测异常解析延拓结果显示出，P0-P2勘探线之间出露的矿体因滑坡向下有一定的位移。图4-14　鲁春矿区P0勘探线地质剖面及TEM视电阻率断面综合图图4-15　鲁春矿区P6勘探线地质剖面及TEM视电阻率断面综合图图4-16　鲁春矿区P10勘探线地质剖面及TEM视电阻率断面综合图南矿段（P4-P12勘探线）有一定数量的坑道、探槽和采坑控制矿体，布置瞬变电磁法（TEM）剖面3条，分别位于P6、P8、P10勘探线。重叠回线位于P6、P10勘探线，大定源回线位于P8勘探线。TEM结果显示在地下深度约250m范围内都存在ρs值为25～0Ω·m的低阻体，其低阻体出现的部位与高精度磁测异常的范围基本一致，推测为矿化体。在P10勘探线的西侧，地下深度120～370m范围内出现了宽约250m的低阻体，ρs值为20～0Ω·m，该低阻体在北侧P8勘探线地下深度250m处仍有一定反映，结合P8勘探线幅频激发极化法断面的解释成果（1998年），推测为层状矿体下伏的筒状矿（化）体。南延矿段（P12-P24勘探线）为笔者研究的外延地段，未见任何露头，皆被植被和坡积物覆盖，布置瞬变电磁法（TEM）剖面1条，大定源回线位于P12勘探线上。TEM结果显示：植被和坡积物覆盖层下存在低阻体，其低阻体出现的部位与高精度磁测异常的范围基本一致，推测为矿化体，覆盖层深度从50m（东）至120m（西）不等，低阻体（矿化体）空间走上向北可与P10勘探线的矿（化）体（层）相接。鲁春矿区的瞬变电磁法（TEM）深部探测结果表明，矿（化）体向深部延伸较稳定和连续的，低阻体明显，视电阻率低（ρs值为25～0Ω·m）。层状矿（化）体倾向延伸可达200～250m，鲁春矿区的低阻体与磁异常及异常体的空间分布较为一致，也与矿床实测地质剖面的构型大体对应。鲁春矿区层状矿（化）体的下伏还存在两个规模较大的筒状低阻体，显示出很好的找矿前景。

Tem（第三人称单数）的原型动词是Ter，就是“有”的意思。

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

TEM波是电磁场分量只有横向，而没有纵向的“横电磁波”。纵向指的是波传播的方向。

利用北京大学电镜室JEM-200CX型透射电镜对高梯度磁性分离样品中的氧化铁矿物观察表明，红色风化壳中的氧化铁矿物主要有针铁矿、赤铁矿和磁赤铁矿。透射电镜下，针铁矿主要呈针状或星状产出（图版Ⅷ-1）。赤铁矿则常呈菱形六面体、六方片状和椭圆状（图版Ⅷ-2、图版Ⅷ-3），在［001］晶带轴方向的电子衍射图像，衍射斑点呈六方对称分布（图版Ⅷ-4）。由透射电镜观察到的磁赤铁矿主要呈羽毛状，这与我国南方红壤水稻土中的纤铁矿形貌相似。羽毛状磁赤铁矿电子衍射图像上的衍射点呈矩形排列（图版Ⅷ-5、图版Ⅷ-6）。对束状集合体的磁赤铁矿进行的选区电子衍射呈短弧状织构电子衍射花样（图版Ⅷ-7、图版Ⅷ-8）。

SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品，观察内部结构STEM是扫描透射，是扫描电镜里面的一个功能，可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜，具体功能不太清楚了。

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

CET是全国性教学考试，就是常说的英语四六级。TEM更多是针对英语专业的学生，俗称专四、专八。CET英语四六级考试是教育部主管的一项全国性的英语考试，其目的是对大学生的实际英语能力进行客观、准确的测量，为大学英语教学提供测评服务。大学英语考试是一项大规模标准化考试，是一个“标准关联的常模参照测验”。大学英语四、六级考试作为一项全国性的教学考试由“国家教育部高教司”主办，分为四级考试(CET-4) 和六级考试(CET-6)，每年各举行两次，分别在同一天的上午和下午进行。TEM为检测本科英语专业教学大纲执行情况而进行的本科教学考试，主要有英语专业四、八级统测(Test for English Major简称TEM)。各自都有相应的报考要求。凡未通过基础阶段（TEM4）统测的考生，也可参加高年级阶段（TEM8）的统测。报名时间为每年的11月或12月，具体时间以各高校教务处的通知为准，凭所在高校的学生证集体报名——不接受其他学校的报名。参考资料百度百科-专业英语考试百度百科-大学英语四六级考试

TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。TME 全直肠系膜切除术

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

CET是全国性教学考试，就是常说的英语四六级。TEM更多是针对英语专业的学生，俗称专四、专八。CET英语四六级考试是教育部主管的一项全国性的英语考试，其目的是对大学生的实际英语能力进行客观、准确的测量，为大学英语教学提供测评服务。大学英语考试是一项大规模标准化考试，是一个“标准关联的常模参照测验”。大学英语四、六级考试作为一项全国性的教学考试由“国家教育部高教司”主办，分为四级考试(CET-4) 和六级考试(CET-6)，每年各举行两次，分别在同一天的上午和下午进行。TEM为检测本科英语专业教学大纲执行情况而进行的本科教学考试，主要有英语专业四、八级统测(Test for English Major简称TEM)。各自都有相应的报考要求。凡未通过基础阶段（TEM4）统测的考生，也可参加高年级阶段（TEM8）的统测。报名时间为每年的11月或12月，具体时间以各高校教务处的通知为准，凭所在高校的学生证集体报名——不接受其他学校的报名。参考资料百度百科-专业英语考试百度百科-大学英语四六级考试

可测试TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS点扫/微区、EELS点或线或面扫、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)

test for English major

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

TEM = Test for English Majors 英语专业等级考试 分为英语专业四级(TEM4)和八级(TEM8) 考试目的是为检测全国高校本科英语专业教学大纲执行情况而进行的本科教学考试。 报名资格 参加本科专业英语四级统测报名对象为： （1）经教育部备案或批准的高等院校中英语专业二年级本科生。 （2）经教育部备案或批准的高等院校中修完英语专业基础阶段教学大纲规定课程的二、三年制最后一学年的大专生。 （3）教育部备案或批准有学历的成人高等教育学院中四年制即脱产学习的英语专业（第二学年）本科生；五年制即不脱产学习的、修完英语专业基础阶段教学大纲规定课程（第三学年）的本科生。不脱产的三年制大专生，必须在第三学年时方可报名参加专业英语四级测试。 （4）重点外语类院校中，非英语专业的本科生中当年参加英语六级考试且成绩在60分以上，可参加当年专业英语四级考试。 （5）参加四级测试的考生只有一次补考机会。 参加本科专业英语八级统测报名对象为： （1）经教育部备案或批准的高等院校中英语专业四年级本科生。 （2）经教育部批准有学历的成人高等教育学院中完成四年制即脱产学习的英语专业（第四学年）本科生；五年制即不脱产学习英语专业（第五学年）的本科生。 （3）非英语专业六级考试通过的学生可报名参加专业英语八级考试。 （4）参加八级测试的考生只有一次补考机会。 凡未通过基础阶段（TEM4）统测的考生，也可参加高年级阶段（TEM8）的统测。 英语专业的专生本学生因超出英语专业基础阶段（TEM4）统测规定的考试年限（祥见报名对象），一律不得参加英语专业基础阶段（TEM4）统测，但可在英语专业专生本学习的最后一学期参加高年级阶段（TEM8）统测；因各种原因未在规定的考试年限参加TEM4（第四学期）或TEM8（第八学期）统测的专业英语考生，不得以补考名义参加次年的TEM4或TEM8统测。

TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。TME 全直肠系膜切除术

SEM是扫描电镜,TEM是透射电镜扫描电镜可以观察物体的表面形貌,也可用于做成分的定性和半定量分析透射电镜样品需要做成薄片,可用于观察内部显微结构,也可用于选区电子衍射等,也可用于成分分析.

SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品，观察内部结构STEM是扫描透射，是扫描电镜里面的一个功能，可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜，具体功能不太清楚了。

透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的，如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口断面，当然还有许多其他应用。 SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍. 扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐

TE波是横电波，指的是电磁波中电场的方向垂直于电磁波的传播方向；TM波是横磁波，指的是电磁波中磁场的方向垂直于电磁波的传播方向；TEM波是横电磁波，指的是电磁波中电场和磁场的方向垂直于电磁波的传播方向；这个定义在一般的电磁场理论书里面都有的。

运行里输入CMD，打开你。tem文件所在的文件夹，然后del/q/f/s*.tem就可以了cmdcdc:windowssystem32del/q/f/s*.tem

是系统产生的临时文件，可以删除的。系统中经常看到一些莫名其妙的TMP格式文件，下面是产生过程：临时文件产生 在系统C:WindowsTemp文件夹中，我们经常会发现一些后缀名为TMP的文件，在该文件夹中的这些文件其实都是临时文件。它们可能是系统被误关机，或者其他程序没有删除而生的。而且在该文件夹中还有其他一些类型的文件，对于这类文件，一般没有什么使用价值，我们可以直接将其删除。 另外我们打开附件的“系统工具”下的“磁盘清理”，然后选择要清理的分区，一般首选为系统分区，即C盘。这样系统则会提示正在扫描，稍候片刻即会打开磁盘清理项目窗口，在“要删除的文件”中选中所有的文件，然后单击“确定”按钮即可。将这些临时文件清理后将可以获得更多的磁盘使用空间。

基本原理在光学显微镜下a无f法看清小s于b0。0μm的细微结构，这些结构称为2亚显微结构（submicroscopic structures）或超微结构（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清这些结构，就必须选择波长0更短的光源，以6提高显微镜的分1辨率。3082年Ruska发明了e以0电子o束为3光源的透射电子w显微镜（transmission electron microscope，TEM），电子e束的波长1要比2可见0光和紫外光短得多，并且电子m束的波长0与f发射电子v束的电压平方4根成反8比8，也s就是说电压越高波长3越短。目前TEM的分2辨力v可达0。5nm。 电子s显微镜（图1-26）与h光学显微镜的成像原理基本一g样，所不c同的是前者用电子q束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于t电子j束的穿透力t很弱，因此用于r电镜的标本须制成厚度约70nm左右的超薄切8片5。这种切7片1需要用超薄切7片2机（ultramicrotome）制作。电子r显微镜的放大n倍数最高可达近百万f倍、由电子o照明系统、电磁透镜成像系统、真空系统、记录系统、电源系统等4部分3构成。 f

模板文件的扩展名

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。样品制备：通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。SEM是利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。

sem是扫描电镜，主要用于微观形貌观测及微区成分分析TEM是透射电镜，主要用于微区衍射分析，进行材料的微观结构分析、晶体学参数分析，位错等研究AFM是原子力显微镜，主要用于材料表面微观形貌观测，可实现3维立体构图XRD是X射线衍射，主要用于物相分析（定性与定量），结晶度分析，织构测定，晶体学参数测定等红外光谱主要用于有机官能团的标识

不可以。TEM全称为TransmissionElectronMicroscope，意为透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜图是研究纳米技术的基础研究及开发应用中常用的图。该图的精确程度极高，不使用专门的软件处理会造成与结果的巨大差异，因此不可以。

TEM是英语专业考试，是由高等学校外语专业教学指导委员会主办的（非教育部主办），对英语专业高年级学生英语水平进行衡量的一种外语水平考试。雅思考试和托福考试是出国类语言考试，主要用于出国留学或移民申请的考试，分数的要求需依据你申请的学校和国家来参考。一般说来，雅思是去英联邦国家的考试，托福是去美联邦国家的考试，现在也有考试成绩互相认可的情况，你可以依据自己的情况，去了解看看。

temp一般是系统的临时文件

传播tem波的条件如下。tem波传播的介质必须是均匀的理想导体或电磁波在两个均匀的传播，在同性质的介质的交界面上传播。1、在TEM波传播的方向上，电场和磁场的方向必须垂直于传播方向，即电场和磁场的传播方向必须是横向的。2、传播介质中不存在自由电荷。3、传播介质中不存在磁性材料，或磁性材料的磁化强度可以忽略不计。4、传播介质中不存在任何电学或磁学的瞬时响应。5、传播介质中的电磁参数必须是常数，即不随时间和空间变化而变化。

DIM

C语言的关键字中没有tem，可能是某个程序代码中自定义的变量或者函数等

传说之下兑换tem的步骤是TemmieArmor可以在Temmie的商店买到，TemmieVillage从Waterfall发光蘑菇那个房间下方的道路进入。要获得TemmieArmor首先在Temmie的商店里选购买最后那一项，付1000g供它去上大学(?)等它回来之后你就可以买到那件护甲了，一开始卖得很贵(没死过的话价格是9999)，但是会随着你死的次数增多而降价，所以如果你去多死几次，就可以买下这件护甲了。

TEM是专业的专业四级就相当于cet-6你如果不是学英语的就不用考专业的就CET就好咯认可也比较硬咯TEM

TEM--test for English Major这个是专门为英专而设的考试，非英专的一般是不能考的。CET--college English test。大学公共英语，是为非英专的而设。TEM－4的难度跟CET－6的难度会差不多。对于英专的学生来说，大二就要求统一考TEM－4，所以CET－4可以说没有什么用的。

透射电子显微镜、数字用户线路。1、透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope，缩写TEM)，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。2、DSL的中文名是数字用户线路，是以电话线为传输介质的传输技术组合。

你可以适当的调一下光度和光线的方向，特征就是清晰度高

可以。TEM又叫透射电子显微镜，其具有较高的分辨率，是半导体失效分析领域最常用的仪器之一，是可以看见并拍到碳颗粒的。透射电子显微镜(TEM)可以对碳颗粒的微观形态和基本碳粒子的微观结构进行观测。

TEM transverse electromagnetic mode

2个不同的吧比方，定义 了 2个变量tem和temp，显然 不同当然，他们可以具有相同的值

光波概述　　光具有波粒二象性 　　也就是说微观来看，由光子组成，具有粒子性 　　但是宏观来看又表现出波动性 　　光的本质是电磁波，波长和频率跟颜色有关，可见光中紫光频率最大，波长最短，红光则刚好相反 　　像红外线，紫外线，伦琴射线等都属于不可见光 　　红外线频率比红光低，波长更长 　　紫外线，伦琴射线等频率比紫光高，波长更短 　　光波：是一种电磁波。 　　光通信：利用光作为载频的通信方式。 　　光纤通信：就是利用光波作为载频和光纤作为传输媒质的一种通信方式。它工作在近红外区，即波长是0.8μm---1.8μm,对应的频率为167THz---375THz。在光纤通信中起主导作用的是激光器（光源、光电检测器）和光纤。 　　光的传播形态分类：根据传播方向上有无电场分量或磁场分量，可分为如下三类，任何光都可以这三种波的合成形式表示出来。 　　TEM波：在传播方向上没有电场和磁场分量，称为横电磁波。 　　TE波：在传播方向上有磁场分量但无电场分量，称为横电波。 　　TM波：在传播方向上有电场分量而无磁场分量，称为横磁波。 电磁波（又称电磁辐射）是由同相振荡且互相垂直的电场与磁场在空间中以波的形式移动，其传播方向垂直于电场与磁场构成的平面，有效的传递能量和动量。电磁辐射可以按照频率分类，从低频率到高频率，包括有无线电波、微波、红外线、可见光、紫外光、X-射线和伽马射线等等。人眼可接收到的电磁辐射，波长大约在380至780纳米之间，称为可见光。只要是本身温度大于绝对零度的物体，都可以发射电磁辐射，而世界上并不存在温度等于或低于绝对零度的物体。电磁波谱　　按照波长或频率的顺序把这些电磁波排列起来，就是电磁波谱。如果把每个波段的频率由低至高依次排列的话，它们是工频电磁波、无线电波、红外线、可见光、紫外线、X射线及γ射线。以无线电的波长最长，宇宙射线的波长最短。 无线电波 3000米～0.3毫米。（微波 0.1~100厘米） 　　红外线 0.3毫米～0.75微米。（其中：近红外为0.76~3微米，中红外为3~6微米，远红外为6~15微米，超远红外为15~300微米） 　　可见光 0.7微米～0.4微米。 　　紫外线 0.4微米～10毫微米 　　X射线 10毫微米～0.1毫微米 　　γ射线 0.1毫微米～0.001毫微米 　　高能射线 小于0.001毫微米 　　传真（电视）用的波长是3～6米；雷达用的波长更短，3米到几毫米。

CET 是College English Test 的缩写，意思是大学英语考试，CET 4就是四级考试，CET 6就是六级考试，是非英语专业的考试TEM 是Test for English Majors 的缩写，意思是专业英语考试，TEM 4 就是专业四级，TEM 8就是专业八级，这个考试只有英语专业的学生从才能参加的

tem是你安装的程序文件。 temp下的文件是可以删除的。

酵母MM培养基/无机盐培养基（2×）的介绍及成分组成齐岳生物 >《酵母杂交》阅1451转02021.02.22关注名称：酵母MM培养基/无机盐培养基（2×）英文名:Yeast Minimal Medium产品储存：常温运输；2-8 ℃保存6-12个月；长期保存-20 ℃。描述： MM培养基又名无机盐培养基或基本培养基（minimal medium），可以作为降解特定碳源微生物筛选的培养基基础。在MM培养基中加入唯一碳源，如黄曲霉毒素、玉米赤霉烯酮、菲、萘和石油等，可以筛选分解相应碳源的微生物。本产品为过滤除菌产品，浓度为2×，可以与等体积无菌琼脂粉溶液（4%）混合后配置固体培养基，或者用等体积无菌水稀释后作为液体培养基使用。

TEM可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。

SQE指的是供货商管理工程师的全称缩写——（Supplier Quality Engineer）1、必须要有供应商跟踪的方式，质量问题独立处理的方法；2、高级职位必须要有成本控制、质量控制管理的清晰思路与意识、坚持的原则底线；3、供应商的内部品质管理流程、以及可能出现的问题对应方式。4、稳定性的保证手段。扩展资料：职责1、SQE负责保障供应商所供原材料的质量，在进料检验、生产过程检验、客户抱怨等，只要是由于供应商供货物料质量缺陷引发的，都要及时反馈供应商要求其改善；2、SQE负责追踪确认供应商的改善报告（8D）及实施效果，必要时可进行现场审核检查；3、SQE负责制定进货检验部门（IQC）的检验规范及检验计划，并适时对检验员进行培训指导；

sqe的意思是：供应商质量工程师，英文是“SupplierQualityEngineer”，sqe是它的缩写。sqe主要负责技术与服务的管理、监督、检验、鉴定等，在检验过程中，一旦发现供应商所提供的物料有质量缺陷，需及时反馈，并实时追踪供货商的改善效果。另外，sqe还负责检验规范的制定，以及对检验员的培训指导。

SQE即供货商管理工程师（Supplier Quality Engineer）。职责：1、负责保障供应商所供原材料的质量，由于供应商供货物料质量缺陷引发的问题要及时反馈供应商要求其改善；2、负责追踪确认供应商的改善报告及实施效果，必要时可进行现场审核检查；3、负责制定进货检验部门的检验规范及检验计划，并适时对检验员进行培训指导；4、可以参与供应商初始样品的评估放行工作；5、每月或每季度，对现有供应商的质量状况进行统计评分，对评分较低的供应商提出限期改善要求；6、参与新供应商开发与审核，与采购、研发部门一起对新供应商进行考核打分。

ETS是美国语言考试中心,新托福包括口语听力作文阅读,托福是去美国必考的项目,考验学生语言水平的测试

应是 Est 或est 不是esT 请注意差一字Est=Estimate 估计